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簡要描述：太陽能封裝膠膜測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。又可稱為測厚儀、高精度薄膜測厚儀、薄膜厚度測試儀、薄膜測厚儀、紙張厚度測定儀、臺式測厚儀等。
產(chǎn)品型號：CHY-CU廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-08-23訪 問 量：351詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),印刷包裝,制藥 |
太陽能封裝膠膜測厚儀測試原理
機械接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測量頭自動降落于試樣之上，在一定壓力和一定接觸面積下測試出試樣的厚度值。
太陽能封裝膠膜測厚儀產(chǎn)品特征
7寸液晶觸摸屏顯示，一鍵化操作
嚴格按照標準設(shè)計的接觸面積和測量壓力
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
測試數(shù)據(jù)精確穩(wěn)定，每次測量前測量頭自動清零
實時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)
系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、儲存、打印等許多實用功能
微型打印機方便測試結(jié)果快捷輸出
設(shè)備內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)統(tǒng)計、查詢，并可搜索歷史數(shù)據(jù)
測試應(yīng)用
薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、箔片、硅片、金屬片等材料的測試
技術(shù)參數(shù)
測試范圍： 0～2 mm（標配）
分 辨 率： 0.1 μm （0.01um可選）
測量速度：10 次/min
測量壓力：17.5±1 kPa
測 量 頭： 50 mm2（球形測頭可選）
尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)
重量：35kg
測試標準
該設(shè)備滿足多項國家和標準：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983, BS 4817、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547
產(chǎn)品配置
標準配置：主機、微型打印機
選購件：測量頭
產(chǎn)品咨詢
聯(lián)系人：杜先生
地址：濟南市高新區(qū)正豐路國際商務(wù)中心
郵箱：15098991508@139.com
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